| 照片 |
|
| 仪器中文名 | 台式X射线吸收精细结构/发射谱仪 |
| 仪器英文名 | Benchtop X-ray Absorption Fine Structure/Emission Spectrometer |
| 型号 | Table XAFS-500 |
| 制造商 | 安徽创谱仪器科技有限公司 |
| 产地 | 中国 |
| 购买年份 | 2022 |
| 仪器负责人 | |
| 可对外开放时间 | |
| 安放地点 | |
| 所在实验室 |
成分分析
|
| 仪器编号 | |
| 主要规格 |
台式高分辨罗兰环结构硬X射线单色器系统、高能量分辨率的硅漂移检测器（SDD）、曲率半径为50 cm的球面弯曲晶体：Si球面弯曲晶体单色器、Ge球面弯曲晶体单色器
|
| 技术指标 |
X射线吸收精细结构谱(XAFS)能量范围：满足4.5～18 keV；核心-空穴生成速率：≥1010/s (7～9 keV)；能量分辨率：0.61～1.17 V (8 keV)；XES模式实测重复性：3 meV能量尺度漂移；X-射线单色器布拉格角测量范围：55～85°；X-射线吸收精细结构谱功能最大加速电压：≥40 kV，最大电流：≥40 mA。
|
| 功能 |
用于分析测试元素价态和配位结构，可以实现无需同步辐射光源，完成材料X射线吸收精细结构的测试，对元素价态及配位结构的测定表征。
|
| 应用范围 |
催化、电池、地质、环境、配位化学等领域。
|
| 主要附件 | |
| 收费标准 |
|
| 检测说明 |
|
| 备注 |
|
登录
