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| 仪器中文名 | 场发射透射电镜F200 |
| 仪器英文名 | Multi-Purpose Electron Microscope |
| 型号 | JEM-F200 |
| 制造商 | 日本电子 |
| 产地 | 日本 |
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| 仪器负责人 | 孟繁琦 |
| 可对外开放时间 | 24小时开放（针对不同等级用户显示不同开放时间） |
| 安放地点 | 综合科研楼B218 |
| 所在实验室 |
结构表征
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| 仪器编号 | |
| 主要规格 |
冷场发射电子枪，加速电压：200kV、80kV，HR高分辨极靴，100mm2 EDS双能谱，oneView底插相机。
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| 技术指标 |
200kV的TEM点分辨率0.19nm，STEM 分辨率0.14 nm。
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| 功能 |
JEM-F200场发射透射电子显微镜是材料领域通用性强的微纳尺度结构与物性分析设备。其加速电压为200/80kV。配备有冷场发射电子枪，光源相干性、亮度、稳定性好。可拍摄HRTEM、STEM HAADF/BF、EDS mapping。配合原位低温电学杆、原位热电杆，可实现低温、高温和电压等外场下的材料微纳尺度结构的实时表征。
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| 应用范围 |
针对化学、材料学、生物学、医学、农学、地质学等学科的样品，提供形貌、微结构、化学元素等方面的分析与科学研究。
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| 主要附件 | EDS双能谱、oneView底插相机 |
| 收费标准 |
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| 检测说明 |
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| 备注 |
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