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| 仪器中文名 | 球差校正透射电镜ARM300 |
| 仪器英文名 | Atomic Resolution Electron Microscope |
| 型号 | JEM-ARM300F2 |
| 制造商 | 日本电子 |
| 产地 | 日本 |
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| 仪器负责人 | 孟繁琦 |
| 可对外开放时间 | 24小时开放（针对不同等级用户显示不同开放时间） |
| 安放地点 | 综合科研楼B145 |
| 所在实验室 |
结构表征
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| 仪器编号 | |
| 主要规格 |
冷场发射电子枪，加速电压：300kV、80kV、40kV，FHP2高分辨极靴，双球差校正器；，158mm2 EDS双能谱仪，1065电子能量损失谱，oneView底插相机，4分割型探测器与OBF系统，4D-STEM相机，EDM剂量调节器。
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| 技术指标 |
300kV的STEM分辨率：53pm，TEM晶格分辨率：50pm，EELS能量分辨率：0.3eV
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| 功能 |
JEM-ARM300F2透射电子显微镜是材料领域目前非常先进的亚埃尺度材料结构与物性分析设备。其加速电压可在40-300kV 范围内调整。配备有冷场发射电子枪，光源相干性、亮度、稳定性均大幅提高。可拍摄HRTEM、EFTEM、STEM HAADF/BF/OBF、EDS mapping、EELS mapping与4D-STEM，实现对材料中轻、重元素的亚埃分辨率下的同时成像，及元素组成、分布和价态的分析。利用静电剂量控制器实现易辐照损伤材料的原子尺度结构和成分分析。配合原位低温电学杆、原位热电杆，可实现低温、高温和电压等外场下的材料原子尺度结构的实时表征。
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| 应用范围 |
针对化学、材料学、生物学、医学、农学、地质学等学科的样品，提供形貌、微结构、化学元素等方面的分析与科学研究。
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| 主要附件 | |
| 收费标准 |
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| 检测说明 |
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| 备注 |
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