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| 仪器中文名 | 原子力显微镜 |
| 仪器英文名 | Atomic Force Microscopy |
| 型号 | Cypher ES |
| 制造商 | 美国 Oxford |
| 产地 | 美国 |
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| 仪器负责人 | |
| 可对外开放时间 | |
| 安放地点 | |
| 所在实验室 |
物性评价
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| 仪器编号 | |
| 主要规格 |
轻敲模式带有Q-control控制技术 (AC mode)；接触模式；相位成像模式；横向力模式；频率调制模式；电学模式、力学模式、纳米加工、PFM；压电力显微镜、MFM、磁场力显微镜
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| 技术指标 |
扫描器 X,Y方向的扫描范围30μm，Z方向5μm；噪音水平：1)X,Y轴闭环噪音：<60pm（Adev,1Hz到1KHz带宽）；2)Z轴闭环噪音：<50pm (Adev,1Hz到1KHz测试带宽)；系统高度噪音：<15pm（Adev,1Hz到1KHz带宽）；激光模块：标准激光二极管: 10x30um光斑尺寸；
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| 功能 |
原子力显微镜能够在大气环境下准确地观测样品表面纳米尺度的三维形貌；同时可对样品表面物理特性进行研究，如表面组分区别、表面电势、磁场力、静电力、摩擦力和其他表面相互作用力的测量；同时可以对样品表面进行纳米尺度的刻蚀和加工。
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| 应用范围 |
对材料的表面进行微结构，力学/电学性质的表征；观察材料在溶液中或不同的气体中等化学环境中表面微观结构和性质的变化。
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| 主要附件 | |
| 收费标准 |
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| 检测说明 |
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| 备注 |
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